E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),
能夠快速精準(zhǔn)地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因(薄弱點),使工程師開發(fā)人員能夠準(zhǔn)確針對薄弱點設(shè)計恰當(dāng)?shù)?EMC措施,
并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。E1 檢測設(shè)備的搭建空間小,適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場地使用。
E1 用戶手冊對EMC工作機(jī)制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細(xì)描述。
E1 組套包括一個脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。
E1系統(tǒng)能幫助你定位系統(tǒng)的敏感點并找出有效的手段使得你的產(chǎn)品盡早通過以下標(biāo)準(zhǔn)測試:
快速瞬變電脈沖群測試(EN61000-4-4, GB/T-17626.4)
靜電放電測試(EN61000-4-2, GB/T-17626.2)