LF 1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波、中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭，可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠(yuǎn)距離探測模塊的干擾發(fā)射情況，接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5對干擾源進(jìn)行更精確的定位。采用這些探頭可以測量單個引腳、較大元件和結(jié)構(gòu)件。這些近場探頭小巧輕便，并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計(jì)。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50的終端阻抗。

無源RF（30 MHz - 3 GHz）

RF 探頭是無源近場探頭，用于在電子模塊研發(fā)階段進(jìn)行磁場測量，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz。探頭的組合完全按照顧客的需求。

無源XF（30 MHz - 6 GHz）

XF系列探頭包含4個無源磁場探頭和3個無源電場探頭，用于在電子模塊研發(fā)階段進(jìn)行電場和磁場的測量，覆蓋頻率范圍為30MHz到6GHz。這種探頭內(nèi)置阻抗匹配器，因而與其他探頭（如RF型探頭）相比在低頻區(qū)域較不敏感。由于其頻率范圍寬并包含從很大到很小尺寸的各種探頭，因而有著廣泛的應(yīng)用。探頭的組合完全按照顧客的需求。 XF系列的探頭可以用于逐步查找模塊的干擾場源。我們建議，首先使用大型高靈敏探頭從遠(yuǎn)距離查找模塊的干擾放射源，然后再用更高分辨率的探頭進(jìn)一步精確定位干擾源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并采用外皮電流衰減。磁場探頭采用電屏蔽設(shè)計(jì)。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部安裝有終端電阻。

無源SX（1 GHz - 20 GHz）

HR, Passive, up to 40 GHz

The HR-E 40-1 is a special near-field probe for measuring electrical RF fields up to 40 GHz.

有源MFA（1 MHz - 6 GHz）

該微型探頭可以精確測量電路布局、最小的SMD-元器件（0603-0201）以及平面電路板的IC引腳等的高頻磁場。這種探頭是有源探頭，采用電屏蔽設(shè)計(jì)，具有外皮電流衰減性能。借助校正曲線可以將探頭的輸出電壓換算為對應(yīng)的磁場或者導(dǎo)線的電流。該近場探頭通過BT 706型偏置器連接到頻譜分析儀或者示波器的50Ω輸入端。通過標(biāo)準(zhǔn)配置中包含的外接電源適配器和偏置器，可以為內(nèi)置在探頭中的前置放大器供電。