Thermo StificTM  K-AlphaTM  X射線光電子能譜儀擁有高 性能的微聚焦單色化X射線源，確保分析區(qū)域和感興趣 的待分析特征區(qū)域緊密匹配。高效的電子透鏡系統(tǒng)、半 球分析器和多通道檢測器實(shí)現(xiàn)了無可比擬的高信噪 比、一流的檢測能力和快速的數(shù)據(jù)采集。

K-Alpha 重要特征和優(yōu)勢

• Al Kα X射線 單色器可用于化學(xué)態(tài)高分辨分析

• 微聚焦X射線探針可用于絕緣材料的分析

• 先進(jìn)的光學(xué)觀察系統(tǒng)可用于對中樣品上微小結(jié)構(gòu)和污染點(diǎn)分析位置

• 聚焦深度剖析離子源可用于單層和多層膜分析

• 一鍵式中和系統(tǒng)可用于精確的小面積分析

• 128通道探測器用于快速并行快照式采集數(shù)據(jù)

  
  

高性能電子能譜分析中的X射線單色器

用戶用K-Alpha X射線單色器可選擇30 μm至400 μm大小的分析區(qū)域，步長 5 μm。將分析區(qū)域調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，使得信號最強(qiáng)。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測器使得儀器具有高靈敏探測能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。

絕緣樣品分析

K-Alpha能譜儀的荷電補(bǔ)償使得儀器分析絕緣樣品就像分析非絕緣樣品一樣容易。賽默飛科技的專利雙束中和源采用離子和極地能量的電子，可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無需荷電校準(zhǔn)。

化學(xué)態(tài)圖像

K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個樣品臺大小的大樣品圖像。獨(dú)特的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將XPS像與儲存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一強(qiáng)大功能可用于識別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。

深度剖析

K-Alpha用標(biāo)準(zhǔn)離子源或MAGCIS（可選雙模單原子和氣體團(tuán)簇離子源）深入表面層以下進(jìn)行分析。自動優(yōu)化源和自動供氣確保優(yōu)良的性能和實(shí)驗(yàn)重復(fù)性

精準(zhǔn)的結(jié)果－快速和高效

K-Alpha具有卓越的性能和先進(jìn)的功能 ，可滿足科研和常規(guī)測量對XPS需求。直觀的操作（由Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)導(dǎo)航）使得K-Alpha適合于 多用戶、設(shè)備共享用戶和著重高效操作和大量分析的XPS專家。

三個攝像頭方便了樣品導(dǎo)航和精確定位。獨(dú)特設(shè)計(jì)的光學(xué)成像系統(tǒng)操作預(yù)存有用戶的使用經(jīng)驗(yàn)，減少了學(xué)習(xí)的彎路，大大提高了測試效率。

k-Alpha的分析室內(nèi)安裝標(biāo)準(zhǔn)樣品，用于必要的校準(zhǔn)。只需按下一鍵，K-Alpha可在數(shù)分鐘內(nèi)完成自校準(zhǔn)。確保用戶數(shù)據(jù)非?？尚?。

K-Alpha系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)