Fields of application
RF field measurement for E- and H-field with near-field probes and a spectrum analyzer or an oscilloscope.
無(wú)源LF(100 kHz - 50 MHz)
RF 探頭是無(wú)源近場(chǎng)探頭,用于在電子模塊研發(fā)階段進(jìn)行磁場(chǎng)測(cè)量,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz。探頭的組合完全按照顧客的需求。
XF系列探頭包含4個(gè)無(wú)源磁場(chǎng)探頭和3個(gè)無(wú)源電場(chǎng)探頭,用于在電子模塊研發(fā)階段進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)的測(cè)量,覆蓋頻率范圍為30MHz到6GHz。這種探頭內(nèi)置阻抗匹配器,因而與其他探頭(如RF型探頭)相比在低頻區(qū)域較不敏感。由于其頻率范圍寬并包含從很大到很小尺寸的各種探頭,因而有著廣泛的應(yīng)用。探頭的組合完全按照顧客的需求。 XF系列的探頭可以用于逐步查找模塊的干擾場(chǎng)源。我們建議,首先使用大型高靈敏探頭從遠(yuǎn)距離查找模塊的干擾放射源,然后再用更高分辨率的探頭進(jìn)一步精確定位干擾源。通過相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭,能夠測(cè)量出電磁場(chǎng)的方向及其分布。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減。磁場(chǎng)探頭采用電屏蔽設(shè)計(jì)。 這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場(chǎng)探頭的內(nèi)部安裝有終端電阻。
無(wú)源HR(高達(dá) 40 GHz)
HR-E 40-1 是一種特殊的近場(chǎng)探頭,用于測(cè)量高達(dá) 40 GHz 的射頻電場(chǎng)。
該微型探頭可以精確測(cè)量電路布局、最小的SMD-元器件(0603-0201)以及平面電路板的IC引腳等的高頻磁場(chǎng)。這種探頭是有源探頭,采用電屏蔽設(shè)計(jì),具有外皮電流衰減性能。借助校正曲線可以將探頭的輸出電壓換算為對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)或者導(dǎo)線的電流。該近場(chǎng)探頭通過BT 706型偏置器連接到頻譜分析儀或者示波器的50Ω輸入端。通過標(biāo)準(zhǔn)配置中包含的外接電源適配器和偏置器,可以為內(nèi)置在探頭中的前置放大器供電。
RF field measurement for E- and H-field with near-field probes and a spectrum analyzer or an oscilloscope.